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首页 > 产品中心 > 密封性试验仪 > 包装密封性能试验仪 > LEAK-S1YY/T 0681.18真空衰减法无损密封测试仪

YY/T 0681.18真空衰减法无损密封测试仪

简要描述:YY/T 0681.18真空衰减法无损密封测试仪适用于食品、制药、医疗器械、电子元器件等行业的瓶、管、罐、盒、袋等产品的无损密封试验及包装完整性验证,以及安瓿瓶、西林瓶等试样的微小漏孔及泄漏量的无损密封性检测。YY/T0681.18部分规定了用真空衰减法无损检验包装系统泄漏的测试方法。

  • 产品型号:LEAK-S1
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-08-03
  • 访  问  量:1153

详细介绍

品牌其他品牌价格区间10万-50万
产地类别国产应用领域医疗卫生,食品,生物产业,印刷包装,制药

YY/T 0681.18真空衰减法无损密封测试仪测试原理

主机连接一个真空衰减腔,将试样放入此测试腔内抽真空,试样内外有压差,气体通过漏孔进入真空衰减腔和主机,主机利用压力传感器和差压传感器监测测试腔内的真空度变化,通过真空度变化量来判断试样是否合格及样品最小泄漏量。

产品特征

  • 双压法测试原理,对产品进行无损检测,测试结果重复性好,测试结束后自动判定试验结果

  • 高精度的压力测试系统,适用于检测微小漏孔,也可以鉴别大漏孔样品,并自动判定合格与不合格的样品

  • 采用气动元件,进口双压力传感器,性能稳定可靠

  • 可预设多级真空,用于分析试样的泄漏压力及最小泄漏量

  • 多重试验模式,多种产品测试模式,可储存多种标准试样种类  

  • 大液晶触摸屏显示,一键化操作,操作界面简单直观

  • 真空、测试和平衡时间可调,并可存储于数据库中,保证测试条件的一致性

  • 试验曲线实时显示,数据智能统计,方便快速查看检测结果

  • 具有数据自动存储、历史数据可进行快速查看并打印

  • 可测试微米级漏孔的泄漏性能,数据结果具有可溯源性

  • 配备微型打印机和USB通用数据接口,方便数据输出和传递

  • 配有GMP权限管理系统,具备用户管理、数据审计追踪等功能

参照标准ASTMF2338、USP40-1207法规要求、YY/T0681.18无菌医疗器械包装试验方法第18部分:用真空衰减法无损检验包装泄露。

YY/T 0681.18真空衰减法无损密封测试仪试验流程

采用无损性检测方法,不破坏测试样品,试验结果自动判定,减少人为因素影响,可检测大漏孔样品,也可检测微泄露样品。

 将试样放入测试腔体,根据设定的真空度对测试腔进行抽真空。在“一定的时间内"到达设定的真空度,则判断试样无大的泄露,反之则判断不合格。

设定保压时间、临界值。在设定的保压时间内真空度降不到设定的临界值,则判断试样无中等大小的漏孔,反之则判断不合格。

设定测试时间。在测试时间内真空衰减率小于试样真空衰减率标定值,则判断试样无对应微米级以上漏孔,反之则判断不合格。



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